问题描述：
[单选]
不属于X线头影测量主要用途的是
A．研究颅面生长发育
B．牙颌面畸形诊断分析
C．了解患者的骨龄
D．错治疗方案设计
E．评估治疗结果
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- 我要回答: 网友(216.73.216.22)
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