问题描述：
[多选]
二氧化硅薄膜厚度的测量方法有（）。
A．比色法
B．双光干涉法
C．椭圆偏振光法
D．腐蚀法
E．电容-电压法
参考答案：查看无
答案解析：无
☆收藏
答案解析：无
☆收藏
- 我要回答: 网友(18.219.14.63)
- 热门题目: 1.薄膜沉积的机构，依发生的顺序 2.硅晶片上之所以可以产生薄膜， 3.决定吸附原子彼此间能否形成一