问题描述：
[单选]
APTK14 3．96_V4 Gate 过程内维修发现GO， 发生位置在KLM （A对面长边），发生原因：IF Buffer堆积后，设备前端某些单元会停留，导致单元TT长，影响工艺，导致产品不良；当IF 堆满后，设备前端玻璃停留的单元是（）
A．SB CP内停留
B．VCD 完成后,在VCD 出口停留
C．Cleaner AK
D．DB In Buffer & CP &OUT Buffer&Exit
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